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日本kett凱特內置打印機膜厚計涂層測厚儀
日本kett凱特內置打印機膜厚計內置打印機的膜厚計較好型號塊/組統計計算功能新開發的探頭（另售）
型號： L-500 所在地：深圳市參考價： ￥22222 更新時間：2024/5/17 15:18:48 對比

高級膜厚計涂層膜厚計內置打印機膜厚計便攜式膜厚計電磁感應或渦流膜厚計
全內反射熒光X射線分析儀OURSTEX 200TX
全內反射熒光X射線分析儀OURSTEX 200TX● 堪比ICP/原子吸收系統的高靈敏度　● 總重量，僅8kg　● 可以從 ppm 分析 ppb 級　● 無需液...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 21:38:43 對比

便攜式X射線分析儀電阻式膜厚計日本filmetrics
ourstex在線膜厚分析儀OURSTEX100TA-F
ourstex在線膜厚分析儀OURSTEX100TA-F介紹利用我們的無損分析技術的在線膜厚分析儀。
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 21:36:27 對比

在線膜厚計電阻式膜厚計日本filmetrics
日本NDK袖珍型超聲波測厚儀UDM-960
日本NDK袖珍型超聲波測厚儀UDM-9601臺標配相當于3臺的BB、SB、TB 3種測量方式，可根據用途進行廣泛的測量。
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 16:58:19 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本NDK超聲波測厚儀UDM-750/750DL
日本NDK超聲波測厚儀UDM-750/750DL可以使用標準探頭測量 0.8 mm 的厚度，使用標準探頭測量0.8 mm和使用薄板探頭（選項）從 0.4 mm ...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 16:56:39 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本NDK超聲波測厚儀UDM-550V
日本NDK超聲波測厚儀UDM-550V金屬/玻璃/樹脂的厚度測量板/容器/管模制品的厚度測量
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 16:54:19 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本nanogray熱釋光測厚儀TL-2000
日本nanogray熱釋光測厚儀TL-2000熱釋光（TL）法是利用附著在食品上的硅酸鹽礦物通過γ射線照射而儲存的能量，是基于加熱時釋放出光的現象.
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 15:32:41 對比

X射線測厚儀塑料測厚儀
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100這是使用β射線（β射線）的測厚儀（薄膜測厚儀）。以非接觸方式（β射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 15:30:53 對比

X射線測厚儀塑料測厚儀
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100測厚儀（薄膜測厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）。
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 15:29:15 對比

X射線測厚儀塑料測厚儀
日本ewig便攜式超聲波測厚儀 UTM-110 / 210
日本ewig便攜式超聲波測厚儀 UTM-110 / 210UTM-110 / 210 是 1973 年開發出的一臺袖珍型超聲波測厚儀的東京計機自豪地交付的良好機...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 10:31:00 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本ewig PET瓶水量自動測量儀EH-5500W
日本ewig PET瓶水量自動測量儀EH-5500W該設備自動測量PET瓶的含水量，并實時輸出和匯總數據。可通過機器人的 I/O 信號實現全自動支持（訂購時可選...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 10:20:52 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本ewig瓶坯自動測厚儀EH-8000
日本ewig瓶坯自動測厚儀EH-8000它是一種自動測量PET瓶坯厚度并實時輸出和匯總數據的測量機。
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 10:19:20 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本ewig PET瓶自動測厚儀PA-2000SA
日本ewig PET瓶自動測厚儀PA-2000SA還提供專用軟件，可根據測量高度改變圓周方向的測量位置。此外，還可以使用原始軟件進行一鍵聚合。任何人都可以輕松測...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 10:17:11 對比

薄膜測厚儀塑料測厚儀
日本dip coater膜厚計AFW-100W
日本dip coater膜厚計AFW-100W推薦使用反射光譜膜厚計用于膜厚測量應用，例如硬涂層。
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 7:41:19 對比

膜厚計電阻式膜厚計日本filmetrics
日本filmetrics顯微自動膜厚測量系統F54
日本filmetrics顯微自動膜厚測量系統F54F54顯微自動膜厚測量系統是將微小區域的高精度膜厚/光學常數分析功能與自動高速載物臺相結合的系統。兼容 2 英...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 7:37:06 對比

膜厚計電阻式膜厚計日本filmetrics
日本filmetrics對準自動膜厚測量系統F60
日本filmetrics對準自動膜厚測量系統F60F60自動測繪膜厚測量系統是F50的高精度機型，具有缺口檢測、自動基線功能和互鎖機制。
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 7:35:23 對比

膜厚計電阻式膜厚計日本filmetrics
日本filmetrics自動測繪膜厚測量系統F50 測厚儀
日本filmetrics自動測繪膜厚測量系統F50F50自動測繪膜厚測量系統是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結合的系統。
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 7:33:32 對比

膜厚計電阻式膜厚計日本filmetrics
日本filmetrics F3-sX板厚測量系統測厚儀
日本filmetrics F3-sX板厚測量系統可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。通過安裝最初開發的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達 3 mm 的厚膜...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 7:31:06 對比

膜厚計電阻式膜厚計日本filmetrics
日本反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RT 測厚儀
日本反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RTF10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 7:28:50 對比

膜厚計電阻式膜厚計日本filmetrics
日本filmetrics膜厚測量系統F20 測厚儀
日本filmetrics膜厚測量系統F20一種行業標準、低價、多功能的臺式薄膜厚度測量系統，已在全球安裝了 5,000 多臺。它可用于從研發到制造現場在線測量的...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/5/15 7:26:21 對比

膜厚計電阻式膜厚計

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